เครื่องมือวัดภาพความแม่นยำสูงทางโลหะวิทยา

คุณสมบัติผลิตภัณฑ์:

ผลิตภัณฑ์นี้ใช้เลนส์วัตถุทางโลหะวิทยา 5X-100X ซึ่งสามารถสร้างภาพถ่ายระดับจุลทรรศน์ขยายสูง จับรายละเอียดชิ้นงานขนาดเล็ก เช่น แผ่นซิมิคอนดักเตอร์ และตัวอย่างโลหะวิทยาได้อย่างชัดเจน การผสมแหล่งกำเนิดแสงฟิลด์สว่าง ฟิลด์มืด และแสงโพลาไรซ์ ตอบสนองความต้องการการถ่ายภาพของตัวอย่างประเภทต่างๆ และสามารถเก็บรายละเอียดพื้นผิวของตัวอย่างผลึก โปร่งแสง และสะท้อนแสงได้อย่างชัดเจน ซอฟต์แวร์ MetrologyImage V5.0 รองรับการวัดระดับจุลทรรศน์ระดับมืออาชีพ เช่น ขนาดเม็ดธาตุ ความหนาชั้นเคลือบ และเส้นผ่านศูนย์กลางรูจุลทรรศน์ และสามารถสร้างรายงานการตรวจสอบระดับมืออาชีพ สำหรับการวิจัยทางวิทยาศาสตร์และการควบคุมคุณภาพ ฐานรับน้ำหนักป้องกันการสั่นสะเทือน จะลดผลกระทบจากสภาพแวดล้อมภายนอกต่อความแม่นยำในการวัดระดับจุลทรรศน์ รับประกันความเสถียรของการตรวจสอบความแม่นยำสูง

ข้อกำหนดผลิตภัณฑ์:

ขนาดรวมของเครื่องวัดภาพทัศนคติความแม่นยำสูงทางโลหะวิทยานี้ คือ 550*500*1000 มม. และมีน้ำหนักสุทธิประมาณ 60 กิโลกรัม ระยะการเคลื่อนที่ของโต๊ะทำงาน คือ แกน X 200 มม. แกน Y 150 มม. และความสูงที่สามารถวัดได้สูงสุดคือ 100 มม. อุปกรณ์ติดตั้งกล้อง CCD ความละเอียด 1920*1080 ซึ่งช่วยเก็บภาพถ่ายระดับจุลทรรศน์ได้อย่างชัดเจน ข้อกำหนดแหล่งจ่ายไฟ คือ AC100-240V 50/60Hz ซึ่งเหมาะกับสภาพแวดล้อมแหล่งจ่ายไฟในพื้นที่ต่างๆ โต๊ะทำงานสามารถรับน้ำหนักได้สูงสุด 3 กิโลกรัม ตอบสนองความต้องการวางตัวอย่างขนาดเล็กและชิ้นงานขนาดเล็กส่วนใหญ่ อุปกรณ์รองรับการถ่ายโอนข้อมูลผ่าน USB3.0 และ HDMI ซึ่งช่วยให้สามารถแสดงภาพจุลทรรศน์ได้ในเวลาจริง และส่งออกข้อมูลการตรวจสอบได้อย่างรวดเร็ว

การประยุกต์ใช้ผลิตภัณฑ์:

เครื่องวัดภาพทัศนคติความแม่นยำสูงทางโลหะวิทยานี้ เหมาะสำหรับการวัดระดับจุลทรรศน์ของตัวอย่างโลหะวิทยา แผ่นซิมิคอนดักเตอร์ อุปกรณ์ฮาร์ดแวร์ขนาดจุลทรรศน์ความแม่นยำ ความหนาชั้นเคลือบ และชิ้นงานขนาดเล็กอื่นๆ ใช้กันอย่างแพร่หลายในอุตสาหกรรมการผลิตซิมิคอนดักเตอร์ การวิจัยวัสดุทางวิทยาศาสตร์ การผลิตอุปกรณ์แสงความแม่นยำ และอุตสาหกรรมอื่นๆ ซึ่งจะให้ข้อมูลการวัดที่เชื่อถือได้ สำหรับการควบคุมคุณภาพและการวิจัยทางวิทยาศาสตร์ สามารถใช้ในห้องปฏิบัติการวัสดุของมหาวิทยาลัย โรงงานผลิตซิมิคอนดักเตอร์ และบริษัทประมวลผลฮาร์ดแวร์ความแม่นยำ ช่วยเพิ่มความแม่นยำของการตรวจสอบระดับจุลทรรศน์ และให้การสนับสนุนข้อมูลสำหรับการปรับปรุงผลิตภัณฑ์และการวิจัยทางวิทยาศาสตร์